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它是一種延遲測量設備，支持所有類型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。 實現與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測量。 可以“無損、無剝離”地測量薄膜的層壓狀態。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，支持因樣品重新定位而導致的錯位，可輕松實現高精度測量。
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可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）。與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外，通過采用積分半球單元，可以實現明亮的光學系統，并通過利用這一點重新激發熒光校正，可以進行高精度的測量。此外，QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
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“光譜輻照度測量系統 IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進行測量和照明 電源也是集體控制 這個設備追求到精良的基礎照度測量。
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評估光源在紫外線區域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 **性評估 它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
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“紫外分光輻照度測量系統IL100”評估光源在紫外區的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統評估必不可少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區域也能實現高精度測量的設備。 產品咨詢
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評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合 支持 紫外線 LED 的 光學特性評估，預計將被**、凈化和樹脂固化。
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它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性 。繁瑣操作要求 測量精度高集成半球，樣品組方便 測量大功率激光光源瓦級對應 測量系統對應任何場景總光通量測量多年經驗，滿足需求支持。
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一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發的分光鏡實現高精度測量！ -顏色可以與光分布數據一起測量！- 即使在光譜測量中也可實現相當于照度計類型的高速測量！ ?可根據配光測量結果進行照度分析！!! -符合標準測量系統！
